苏州小型二手ICT市场报价
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面议
求购以下测试设备: 德律泰:TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷伦:agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达:Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针:ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 测试机配件板卡:agilent3070 i1000 数字开关板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞达 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 数字开关板、DUT电源板 以上设备测试设备和配件都打包回收, 不管设备好坏,闲置,需要处理.
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高,功能越来越强,封装越来越小,SMT元件的增多,多层板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一个节点放一根探针变得很困难,为增加测试点,使制造费用增高;同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难,开发周期延长。
安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上,在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等,信号更稳定;
开机系统初始化,测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理,测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试,满足各种线体需要
分组块测试模式,成倍提高工作效率,节约投资
采用四针六线测试技术,排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术,可测试电容极性
多管脚器件测量方式,专测多管脚器件
每步高达5针隔离,对元器件隔离测试
8U结构,轻巧稳固,适应需求
完善的自检功能,保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份,保障数据无丢失
可测IC(集成电路)插错、插反,管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能,提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术,可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用,可对元器件进行一致性检测
深圳木士电子销售,回收各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、
TRI8100LV、TRI5001E、Agilent3070、agilent i1000D
Teradyne ICT和TAKAYA测试飞针各品牌ICT测试配件板卡,
开关板,ATM SMB.DUT.安捷伦agilent3070
XTP control card asru N
Hybrid DD pin card(E4000-66550)
泰瑞达: TeradyneTSL124/128 PIN CAR 、
PIO CAR 、System controller
Keysight i3070 系列 6 系统提供了一个新的模拟激励和响应单元(ASRU)卡,其中包含新的数字测量电路(DMC),能够为系统提供额外的特性和提高系统模拟测试速度(可达到总模拟测试时间的20%)。
Keysight i3070 系列 6 系统可以满足这一需求。系列 6 ICT 系统采用成熟的技术精心设计,测试效率相比以前的产品大大提升。系列 6 包含久经考验的软件、硬件和编程功能,完全兼容以前的系统,并且可以执行高度可重复的测量。系列 6 ICT 还提供新的基础架构,能够允许制造商更轻松地并入外部电路以提高测试覆盖率,同时改善对外部电路的控制。深圳市木士电子有限公司二手ICT测试仪
销售,回收、租赁各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、 TRI5001E、TRI8100LV、Keysighti3070、agilent i1000D、泰瑞达Teradyne TS
提供工厂ICT测试技术支持,的团队、质量、技术可靠、售后无忧。支持工厂闲置设备
的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100%真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100%。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能,可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计,使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能,资料可自动存储,不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式,可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性,检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小,重量轻,使用灵活,符合高科科技产品轻,薄,短,小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。