天瑞公司EDX光谱仪检测设备

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。
仪器配置电子制冷的半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。

产品的特点
1.配置检测系统，提高各项分析性能
半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。
2.轻松操作，自动便捷
一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。
3.多层防护，安全可靠
软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。

应用领域
RoHS检测分析、有害元素分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和检测机构、电镀行业

全自动进样机械臂（选配）
配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。