常熟回收主控IC收购900万图像传感器
-
≥10000件¥2000.00
-
100-10000件¥2000.00
-
1-100件¥999.00
常熟回收主控IC 收购900万图像传感器
沙溪收购功率MOS管,洪梅收购记录仪芯片,栖霞求购手机排线,桥头回收白银系列CPU,塘厦求购电子元件,宝山求购时间继电器,坂田求购三菱模块,凤岗回收传感器芯片,坑梓收购瑞昱芯片,坑梓收购东芝内存,南朗回收BGA芯片,昆明求购高通IC,三乡回收1200万图像传感器,麻涌回收U盘,珠海回收卡座,万江求购广电,广州收购耦合器,南京收购字库IC,小金口求购电机芯片,石家庄求购EMMC,博罗收购X电容,黄江收购线路板,江宁回收海力士内存,烟台求购EMCP芯片,大岭山回收电子物料,中堂收购金士顿内存,道滘求购网络端口,青岛求购电机驱动IC,坂田收购电动车电池,公明回收汽车主板,横岗求购加速计,香港回收X电容,常平回收耦合器,花桥收购电感,张家港收购传感器芯片,吴中回收黑金刚电容,松山湖求购芯片,嘉定求购开关,西安求购IG管,上海求购显存,黄江收购LPDDR5芯片,东升回收阿尔特拉IC,烟台收购DDR芯片,济南求购马达,高埗收购TF卡,大岭山求购射频芯片,香港求购BGA,南昌求购充电芯片,温州收购EMCP芯片,嘉定收购霍尔元件
TPS53311RGTR,ISL98001-210,NR10050T101M,M12L64164A-7TG2C,XCKU115-2FFVD1517I,ERX5FJ3R0,ERJS12J560U,ADL7003CHIPS,HF94F-13D48-2,2SAR544P5,CD74ACT164M,VC-840-EAE-FAAN-100M000000TR,MT48H16M16LFBF-6:H,ERJ6DQJ3R3V,ERA2ARB561X,ATV30C140J-HF,C2012JB1C106M125AB,ASMBJ14A-HF,5SGXEA9K2H40I2L,MT46V32M8BG-6L,NCP59151DS30R4G,ERJP14D1400U,CL21B683KCFNNNE,EEUFC171,HF105F-5/012A-1H,TL431AILP,ZLFCJ,XCVU080-1SFVB2104I,LTC3554EUD-1#PBF,TPS72301DBVTG4,CNY173TVM,ATV04A8V0J-HF,S9S08DZ96F2VLHR,FW420,ERJH3GJ202V,ERJB2AG364V,TAR5S21,GRM033R11A182KA01#,EEUFR1A102,TPS77901DGKRG4,TMS320F28016PZS,UPD70F3375M1GCA2-UEU-AX,NVMYS8D0N04CTWG,BC847BWT1G,AON6366E,SiSS65DN,LT3745IUJ#TRPBF,BD9E151ANUX,ERJS1DD27R0U,T5-1T+
使用组合透镜系统对物体成像,实现加电时液晶透镜区域清晰,具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向:液晶透镜成像系统测试目的:展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果,测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF,分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程:1.实验室制备液晶透镜,并通过干涉法获取波前信息,分析得到zernike系数,得到液晶透镜的性能参数,以选择合适的驱动电压;组装成像系统,对不同区域的物体进行成像实验;使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试,测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。