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芯片高低温变温测试台是一款针对芯片、光器件变温性能测试的多功能测试平台,XYZ轴可任意调节,XY轴调节范围0-250mm,轴调节范围0-200mm,控温精度±0.01℃,控温范围-50℃-120℃(非标可定制),触摸屏控制,友好的人机界面,RS232、RS484远程控制接口,无噪声、无振动,升降速率可调。组成部分:半导体冷热台、半导体温度控制器、温控软件、水循环系统(选配)。样品台尺寸 可根据实际要求定制。常规尺寸:从 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形状:圆形,方形等可根据实际需要定制

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