我公司是目前国内生产此仪器的厂家，主要用于半导体封装和集成电路表面测量，达1纳米。能显示被测件的三维/二惟形状，测量数据以报表显示。还可测量各种台阶，沟槽等复杂表面结构及渡膜和透明膜上下表面的分布。基于软件的强大功能还可测量粗糙度和平面度！（软件运算）。希望我们能有机会合作！