车载传感器、芯片、IGBT液态冲击试验；老炼试验

车载传感器液态冲击试验

客户挑战

         随着5G和Al技术的发展，智能汽车产业将迎来爆发式增长，各种车载智能系统应运而生，其中，对各类车载传感器及其芯片、IGBT等组件可靠性提出了更高的要求。传统的气-气温冲已逐渐难以满足对产品的可靠性验证，行业需要转换时间更少、温度变化更为剧烈的严苛方法，以筛选出性能更可靠的产品。

解决方案

      广电计量检测（GRGT）拥有以氟油为介质的液态温冲试验能力，已完成了蓝牙芯片、 IGBT模组、MCU传感器等组件的液态温冲试验，与传统的气-气温冲相比，在更加有效地验证产品可靠性的同时，大大减少了试验时间，提升试验效率，缩短产品研发、定型、投产的时间。

      同时，广电计量可对失效产品进行分析和故障模拟，协助客户优化产品设计、生产管控。

测试对象
       集成电路（IC）、LED、OLED、BJT、Mosfet、 IGBT等对氟油不敏感器件。

测试标准
· ML-STD-202 Method107Thermalshock· JESD22-A106 Thermal Shock· GJB128A方法1056热冲击（液体-液体）。