昆山天瑞镀层测厚仪x-ray荧光镀层测厚仪

天瑞测厚仪产品 基本参数：
分析范围从硫(S)到铀（U）。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序，适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。重量：90kg。

控制涂层厚度：对于某些特定的工艺和应用，涂层厚度是需要严格控制的，过厚或过薄都会影响涂层的性能和质量。因此，使用镀层测厚仪可以帮助制定控制涂层厚度的标准和规程，确保涂层的质量和性能符合要求。

使用镀层测厚仪时需要注意以下几点事项：
避免干扰：使用镀层测厚仪时，需要避免外部的电磁干扰，以免干扰测试结果的准确性。
校准仪器：在进行测试前，需要对镀层测厚仪进行校准，以确保测试的准确性和可靠性。
清洁样品表面：测试前需要清洁样品表面，以确保测试结果的准确性。使用棉布或者清洁纸擦拭样品表面即可。
选择合适的探头：不同的测试材料和涂层厚度需要选择不同的探头，选择不当会影响测试结果的准确性。
测量位置和方向：需要选择合适的测量位置和方向，以确保测试结果的准确性。如有需要，可以进行多次测试取平均值。
避免磁场干扰：在测试磁性涂层时，需要避免磁场干扰，以确保测试结果的准确性。
避免温度影响：在测试高温或低温涂层时，需要考虑温度影响对测试结果的影响，可以进行温度校准或者采取其他措施。
保养维护：使用后需要对镀层测厚仪进行保养和维护，包括定期清洁、更换老化的部件等，以确保测试结果的准确性和仪器的长期稳定性。
总之，在使用镀层测厚仪时，需要注意以上几点事项，以确保测试的准确性和可靠性，并保护仪器的长期稳定性。