X荧光分析仪型号

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术

具影响力厂商”由仪器信息网发起的“2017年度科学仪器行业具影响力厂商”评选活动筛选产生。该活动是从仪器信息网的千余家参展商中，根据厂商2017年度的中国产值、在仪器信息网的年度立访问人数、在用户中的关注度等作为主要评选维度，经过综合评分计算，确定天瑞仪器入围。该奖项的获得，是对天瑞仪器2017年整体成绩的肯定，也是对天瑞仪器继续前行继续奋斗的激励。